2010年3月1號至3月4號期間，新國科技參與了在美國佛羅里達州奧蘭多市 Orange County Convention Center(OCCC)所辦的2010 Pittcon。

新國公司在Pittcon展出介紹其最新品”顯微可見光光譜儀”，此品結合了一般的光學顯微鏡與光譜儀的技術，可進行微米級樣品之可見光光譜分析。許多的參觀者都十分讚賞此新穎及獨特的念及特色，此品將對液晶面板、半導體、生化及生命科學、刑事鑑定及色料相關業具有大的吸引力。

同時在展場上也展示了新國科技自行發的品，色度分析儀(Color spectrophotometer) 及高壓液相層析儀用之二極體陣列偵測器(DAD-Diode Array Detector) 。