Scinco新國科技官方新網站請按此
BRANCH OFFICES CHINA TAIWAN AMERICA
HOME > 最新消息 > 新聞中心
 
2010 Pittcon
作者 admin 上傳日期 2010-03-30

2010年3月1號至3月4號期間,新國科技參與了在美國佛羅里達州奧蘭多市 Orange County Convention Center(OCCC)所辦的2010 Pittcon。

新國公司在Pittcon展出介紹其最新品”顯微可見光光譜儀”,此品結合了一般的光學顯微鏡與光譜儀的技術,可進行微米級樣品之可見光光譜分析。許多的參觀者都十分讚賞此新穎及獨特的念及特色,此品將對液晶面板、半導體、生化及生命科學、刑事鑑定及色料相關業具有大的吸引力。

同時在展場上也展示了新國科技自行發的品,色度分析儀(Color spectrophotometer) 及高壓液相層析儀用之二極體陣列偵測器(DAD-Diode Array Detector) 。

上一篇 > 新國總部辦公室搬遷公告
下一篇 > 歡慶第19週年成立大會
聯絡我們  l   網路地圖  l  
Taipei Office : 11494, 台北市內湖區港墘路200號8樓之4
TEL +886-2-6600-8500      FAX +886-2-6600-8300      MAIL scinco@scinco.tw

Tainan Office: 70151, 台南市東區林森路一段395號8樓之3
TEL +886-6-237-3771      FAX +886-6-237-2730
COPYRIGHT © SCINCO CO.,LTD. ALL RIGHTS RESERUED.
關鍵字導引:FTIR,顯微紅外線光譜儀,紅外線光譜,拉曼光譜儀,奈米材料分析,熱分析儀,粒徑分析儀,溶離試驗機,顯微鏡,微流體控制,紫外光可見光分光光譜儀